常用的
T型槽平台平面度检定方法有两大类:间接测量法和直接测量法。
T型槽平台间接测量法是利用水平仪或自准直仪在被测平面若干个测量截面上,以节距法进行测量,得到各被测点相对于测量基准(水平面或光轴直线)的倾斜角度,在取得最后结果时,将角值表示的量值换算为以线值表示的量值。这种方法从仪器器中读得的数值是角度值,因此也叫角差法。属于这类方法的有水平仪法和自准直仪法。
T型槽平台直接测量法是直接获得平面各点偏差值或直接评定平面度误差值。这种测量方法可直接得到线值结果,因此也叫线差法。属于这类测量方法的有
刀口直尺或平尺的垫塞法,标准平板的打表法,激光准直仪测量法。
一、T型槽平台刀口直尺测量法
1.光隙法,该法以刀口直尺作为基准,用光隙法进行测量,检定时将刀口直尺置于被检平板若干截面上,观察光隙大小,并与标准光隙相比较,定出误差值,取其中最大值作为T型槽平台平面度误差。
标准光隙由平晶、
量块、
刀口直尺组成,用两块等高
量块研合在2级平晶的工作面上,选取比等高
量块尺寸依次小于1um、2um、3um、4um的四块1级
量块,按尺寸大小排列,并研合在两等高
量块之间的平晶上,然后将
刀口直尺置于两等高块上就构成了1-4um的标准光源。此方法适用于磨制或研磨加工的小
铸铁平板平面度检定。
2.垫塞法,在被检测
T型槽平台截面的两端放置两块尺寸相同的
量块,
刀口直尺放在
量块上,在截面被检点塞入的
量块或
塞尺与两端相同尺寸
量块尺寸的差为被检点对两端点连线的偏差,在进行数据处理,求得平面度误差值。此方法适用于低准确度
T型槽平台平面度检定。
二、T型槽平台平尺测量法,此方法用平尺、千分表和量块或是专用等高块进行测量,将等高块支撑在距离平尺两端1/9L(L是平尺长度)处,按照规定截面和测点进行测量,也可以用塞量块的方法代替千分表测量,求得被检点两端点连线偏差,进行数据处理,获取T型槽平台平面度值。此方法适用于低准确度铸铁平板平面度检定。
三、T型槽平台指示器测量法,用带指示器的测量装置或坐标测量仪测出被测面相对于测量基面的偏差值,求得平面度误差。检定时将两对角线的角点分别调成等高或大致等高(也可以调整任意三远点),按一定布点形式逐点移动测量装置,记录指示器示值hi,就可以得到各个测点相对测量基面的坐标值。如果两对角线点示值分别相等,则按对角线法评定的平面度误差值为hmax-hmin.此方法适用于中小T型槽平台平面度误差检定。
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